影响涂层测厚仪测量精度的因素有哪些

来源：林上发布时间：2020/05/09 18:00:00 浏览次数：1551

常见的涂层测厚仪以磁性法和涡流测厚法两种原理为主。仪器的测量精度，一直是用户比较关心的问题。但仪器的测量精度会受到多方面因素的影响，除了技术本身以外，还会受到人为因素、自然因素等方面的影响。那影响仪器测量精度的因素有哪些呢？

一、因素之一：人为可控因素

被测材料的曲率对测量是有一定的影响的。这种影响主要是随着曲率半径的减少而明显的增大。因此如果一个被测材料有弯曲面，在弯曲面测量材料的数据是不可靠的。因此我们在测量涂层厚度时尽量选择平整的表面来作为测量点。

我们所说的涂层测厚仪测量的材料都是干膜的涂层厚度，对于湿膜是不适合用仪器来测量的。因为变形的膜厚会影响仪器的测量数据。所以对于不同类型的膜厚我们要选择合适的仪器。

仪器对试件表面的形状会陡变敏感，所以仪器在靠近被测材料的边缘或者内转角的测量数据是不可靠的。我们在进行涂层厚度测量时要尽可能的避免边边角角。

周围各种电器设备所产生的强磁场，会严重的干扰磁性法测厚仪的工作。所以在测量涂层厚度时为了保证测量精度，要避免强磁场的测量环境。

仪器的测头一般会对覆层表面的附着物比较敏感，因此可以去除测头表面的附着物，以保证测头和被测物表面直接接触，确保测量数据更准。

高精度涂层测厚仪的测头施加在涂层表面的压力也会影响到测量数据的精度，因此我们在测量涂层的厚度时一定要保持恒定的压力。

测头的放置方向会对测量数据有一定的影响，因此在测量基体表面的涂层厚度时要使测头与涂层表面保持垂直。

磁性测量原理的测厚仪在测试中会受到基体金属的磁性变化的影响。在磁性测厚仪实际应用中，低碳钢的磁性变化是较小的。所以我们一般在使用磁性测厚仪时，要用与涂层基体相同的基体金属来作为标准片对仪器进行校准。

金属作为导体一般都具有导电性，而基体金属的导电率则会影响涂层测厚仪的测量精度。并且金属基体的导电率与材料的成分以及热处理方法有关，可以使用与试件基体金属具有相同的性质的标准片对仪器进行校准。

每一种仪器都会有一个基体金属基体厚度的临界值，最薄可以测量多厚的基体材料。只要大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

金属基体表面膜厚的粗糙程度会对测量数据有一定的影响。粗糙程度越大对测量数据的影响程度就越大。粗糙的程度会引起系统误差和偶然误差。在同一表面的不同位置增加测量次数可以减小这种误差。如果金属基体粗糙可以在为涂覆的粗糙度类似的金属试件上取几个点校对仪器的零点。

林上科技是一家专业的涂层测厚仪生产厂家，根据了解整理了以上几点会影响仪器测量精度的因素，希望能够帮助用户正确的使用仪器。如需要了解林上产品类型及产品特点，可点击下方文字查看详情。